毛细管微焦点镀层测厚仪

毛细管微焦点镀层测厚仪iEDX-150uT是一种高性能高精度X荧光光谱仪,具备极高的性价比.

产品介绍

概况

iEDX-150uT是一种X射线荧光分析仪器。将测量用的物体(如:电路板)放在台上并开始分析,则分析第二荧光X射线是否被分析,以及所含元素的种类,并将其开发制成iEDX-150uT,用于第一X射线的物体调查和生成。为适应RoHS元素分析的需要,对其进行了早期的定性和定量分析, iEDX-150uT能准确完成。

软件特性

1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

2.计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)

Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析

3.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度

4.励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如:Cu/ABS等]

双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如:Sn-Pb/Cu  ]

5.Multi-Ray. WINDOWS7软件操作系统

6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

7.自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。


规格

组成

名称

参数

备注

 

 

 

X射线源

光管电压

0 - 50kVp

 

光管电流

0 - 1mA

 

Mo(钼)

 

光斑

65-90um

 

射线窗口

Be(铍)

 

 

 

 

X射线探测器

探测器类型

SDD探测器

 

Cooling

Peltier

 

分辨率

125eV @5.9keV

 

探测范围

70mm2

 

探测器窗口

Be 0.5mil(12.5um)

 

滤片

材料

Al(铝)

 

 

准直器

直径

35um

 

材料

/

 

 

摄像机

像素

2 million

 

连接方式

USB

 

光学成像

实际尺寸软件调节

 

 

机体

尺寸

530 X 780 X 530

 x  x

重量

108kg(NET)

 

控制系统

电脑

DELL

 

接口

USB 接口

 

 

软件

操作系统

 

MultiRay

 

自主制造

分析

 

电源

电压范围

195 – 265VAC

自由电压

市电

600W (800W max)


产品应用:

毛细管微焦点镀层测厚仪 iEDX-150μT,具备极高的性价比。产品广泛应用于特殊镀层厚度检测:化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等;汽车零部件、线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容;单层、多层、合金镀层检测;还可用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业,对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济价值。